原子熒光光譜法是介于原子發(fā)射光譜和原子吸收光譜之間的光譜分析技術。它的基本原理是基態(tài)原子（一般蒸汽狀態(tài)）吸收合適的特定頻率的輻射而被激發(fā)至高能態(tài)，而后激發(fā)過程中以光輻射的形式發(fā)射出特征波長的熒光。原子熒光法是原子光譜法中的一個重要的分支，它結合了原子發(fā)射和原子吸收兩種技術的優(yōu)點，能還好的彌補原子吸收在測定某些元素方面的不足。 

原子熒光測量過程中經常會遇到空白值偏高的時候，所使用的酸、還原劑、負高壓和燈電流等方面對原子熒光空白值都會產生影響，因此，控制好這些因素是做好原子熒光檢測的關鍵。在測砷元素方面原子熒光更優(yōu)于原子吸收。原子熒光法在測As過程中，空白值的高低對測量結果影響很大，有必要對空白的影響因素進行深入探究。?

一、測定介質的選擇及濃度的影響

選擇HNO3、HCl、HClO4、H3PO4和H2SO4等進行了實驗，結果表明：以HClO4和H3PO4作介質響應值較低，汞在H2SO4溶液中能得到較大靈敏度，但空白值也高。汞在HNO3和HCl溶液中的熒光強度差別不大。在5%一25%的硝酸和5%一20%的鹽酸中熒光強度基本穩(wěn)定。

二、酸的影響

作為原子熒光的載流和標準試劑的基體，原子熒光受酸的影響十分突出。一般在原子熒光中使用的酸主要有兩種-鹽酸和硝酸。由于在原子化過程中需要把反應以后過多的酸，驅除出去，而硝酸比之鹽酸更加難以去除，故我們習慣上使用鹽酸來作為原子熒光使用的酸。但是現(xiàn)行市場上所能購買到的鹽酸，其穩(wěn)定性變化很大，甚至同一種酸不同的批號相差也很大。而酸對原子熒光的影響主要體現(xiàn)在空白值上面，質量差一點的酸，對空白的影響要大得多。

表1各種類酸的條件下測得的熒光強度

從表1中可以看出，酸的空白值如果太大，會導致前后兩次所測量的空白之間的差值相差很大，而我們?yōu)榱吮ＷC所測得曲線的準確性，空白判定值一般設定為<4，酸的空白值太大的話就難以達到空白判定值的要求，基線穩(wěn)定不下來，出現(xiàn)漂移，使所測數(shù)據不確定度明顯增大，造成數(shù)據失準。經過多次的測試經驗所得，對于測As來說在其他條件保持在推薦值的情況下，空白一般保持在100~350熒光值之間為易，太大增加不確定度，太小的話，靈敏度不夠，測得的數(shù)據不準確，因此在選酸的時候要選擇空白值小一點的酸。

四、負高壓對空白值的影響

負高壓對原子熒光空白值的影響十分明顯，特別是在空白值很高的情況下，負高壓能起到很好的調節(jié)作用，使所測量的數(shù)據準確、可靠。在儀器條件的選擇中，增大負高壓，所測的信號強度也隨之增大，但過高的負高壓會產生較大噪聲。負高壓過高過時信號很不穩(wěn)定，過低的話靈敏度不夠，使所測數(shù)據不確定度增大。實驗表明，負高壓為260~320V時，信號強度值重現(xiàn)性好。

表2不同負高壓值條件下測得的熒光強度

從表2中可以看出，一般每減少20個電壓值，就減少50~80個熒光值。如果酸的空白值太高的話，適當?shù)恼{節(jié)負高壓能使空白熒光值變小，減小結果的不確定性。

五、燈電流的影響

一般來說燈電流與負高壓對原子熒光的影響是同方向的。提高燈電流，空白值就相應的提高?？瞻字堤蟮脑?，可以適當?shù)慕档碗娏髦?，使儀器的靈敏度降低，減少標準空白的背景值，使所測的數(shù)據準確、可靠，但是如果電流過小，靈敏度也將變小，對所測樣品的影響就會增加，所以選擇合適的燈電流，保證一定的空白值與靈敏度才是關鍵。

燈電流適當提高使測定靈敏度提高，但燈電流過高，重現(xiàn)性變差，還會影響燈的壽命，有時會造成工作曲線的彎曲。經實驗，燈電流15-30A為宜。測As的話，以AFS930為例60mA就可以了。隨著原子化器高度的降低熒光強度增大，但原子化器過低噪聲過大，對測定結果影響較大。

六、載氣的影響

相對標準偏差與信號強度呈矛盾的變化，也就是當氬氣流速較低時，測定的靈敏較高．但結果的變動性加大，實際測定取氬氣流速200ml/min，此時測定的靈敏度較高，相對標準偏差(2.5%)可以接受。

綜合以上因素，我們可以了解到在原子熒光測定過程中，選擇好合適的酸很重要，它是原子熒光分析的基礎，還需要合適的負高壓和燈電流，它能使儀器的測量性能達到最佳，同時要保證一定量的還原劑流量，使樣品能夠被充分的反應，這樣原子熒光的空白值才能合乎實驗的要求，才能保障所測樣品數(shù)據的準確性和可靠性。

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